是德N9020B頻譜分析儀在射頻微波芯片測試中的應用
芯片測試技術隨著行業(yè)的快速發(fā)展而發(fā)展，為促進行業(yè)的進步和廣泛應用做出了巨大的貢獻。
在芯片設計、研發(fā)、生產(chǎn)等各個階段，應進行多次測試，以確保產(chǎn)品質量，開發(fā)符合系統(tǒng)要求的產(chǎn)品。
芯片測試對控制質量、確保產(chǎn)品可靠性、設備檢測和篩選過程至關重要。
芯片測試貫穿于整個芯片設計和大規(guī)模生產(chǎn)過程中。
芯片測試一般可分為不同的時間階段WAT，CP，F(xiàn)T三個過程。
FT:Finaltest，包裝后的測試也是最接近實際使用的測試，其目的是嚴格分類芯片。
?現(xiàn)狀
☆FT常用設備涉及各種測試，主要針對相對簡單的測試DC但對復雜度高、對產(chǎn)品質量影響大的射頻指標測試解決方案較少；
☆產(chǎn)能不斷提高，檢測項目越來越多，對檢測效率和穩(wěn)定性提出了更高的要求；
☆測試數(shù)據(jù)量越來越大，人工測試速度不能滿足批量生產(chǎn)的要求，紙質記錄不能滿足信息化和智能化的要求。
是德N9020B頻譜分析儀主要特性和功能：
對持續(xù)時間最短3.57μs的信號達到100%截獲概率，并提供全套高級觸發(fā)功能，能夠觀察、捕獲和理解難以捕捉的信號
通過綜合實時顯示觀察信號動態(tài)
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把89600軟件輕松集成到系統(tǒng)中，可讓您全面地分析復雜信號
整個系統(tǒng)主要由矢量網(wǎng)絡分析儀、探針臺、主控計算機和分選設備四部分組成，系統(tǒng)組成框圖如下：
主控計算機通過網(wǎng)口、GPIB、串口等硬件程控接口，基于VISA等協(xié)議，對探針臺、網(wǎng)絡分析儀、打點機等硬件進行程控。當被測件安置完成后，主控計算機上定制化的測試軟件會按照預先編寫好的程序對被測件進行測試，一般的測試流程包括位置映射（MAPING）、探針臺走位、儀表設置和測量、結果的采集、顯示處理、根據(jù)測試結果進行分選、進行下一次測試等步驟。測試軟件的典型工作流程如下圖所示：
工作節(jié)拍
整個系統(tǒng)中，被測件的測試、分選等過程是由探針臺和測試儀表配合完成，二者之間必須遵循一定的時序節(jié)拍，否則將導致設備工作混亂。系統(tǒng)節(jié)拍如下圖所示：
★SOT：開始測試信號；
★EOT：結束測試信號；
★BIN：分選信號；
★T1：表示網(wǎng)絡分析儀捕獲SOT信號的時間，具體由測試機的性能決定；
★T2：探針臺捕獲EOT信號的時間，由探針臺的性能決定；
★T3：分選信號發(fā)送時間，應當在EOT發(fā)送之前一定時間發(fā)送。
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