開關電源在很大程度上依托于半導體開關器件的工作，如MOSFET和IGBT，開關電源利用自身非常快的開關速度，實現(xiàn)了非常高的轉化效率，損耗極低，半導體開關器件就會對開關電源的性能有非常大的影響，所以半導體開關器件的開關損耗測試是極其重要的，本文即將介紹示波器如何測試開關器件的開關損耗測試

　　用到的設備有：是德示波器，差分探頭，電流探頭

　　使用校準過的電壓電流探頭同時測量就會得到如上圖的波形，在示波器上的math中，使用數(shù)學公式計算，得到功率P的波形如上圖中P波形，可以參考下面的公式

　　Eon表示導通過程的損耗能量

　　Pon表示導通過程的平均損耗功率(有功功率

　　Vds、ld分別表示瞬時電壓和電流

　　Ts表示開關周期

　　t0、t1表示導通過程的開始時間與結束時間