同惠TH2830 LCR測(cè)試儀
同惠TH2830 LCR測(cè)試儀作為新一代低成本、高性能緊湊型設(shè)備,專為滿足電子行業(yè)對(duì)高精度、高效率測(cè)試的需求而設(shè)計(jì),是電子工程師、科研人員及生產(chǎn)制造企業(yè)的理想選擇。
卓越性能,精準(zhǔn)可靠
TH2830具備0.05%的基本測(cè)量精度,這一精度可與高端機(jī)型媲美,能精確測(cè)量電感(L)、電容(C)、電阻(R)等基本參數(shù),同時(shí)支持損耗因數(shù)(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等十余項(xiàng)衍生參數(shù)的獨(dú)立測(cè)量。其測(cè)試頻率范圍覆蓋50Hz - 100kHz,配合30Ω、100Ω可選信號(hào)源阻抗,可適應(yīng)不同應(yīng)用場(chǎng)景下的測(cè)試需求。在測(cè)量電容量時(shí),精度可達(dá)1%,能精準(zhǔn)捕捉納米級(jí)電容變化;測(cè)量電阻時(shí),DCR精度達(dá)0.1%,可滿足微亨利級(jí)電感的測(cè)量需求。
高效測(cè)試,操作便捷
該測(cè)試儀擁有極快的測(cè)試速度,最快可達(dá)12.5ms/次,可在短時(shí)間內(nèi)完成大批量的測(cè)試任務(wù),大幅提升工作效率。它配備了4.3寸TFT液晶顯示屏,界面全新升級(jí),操作簡(jiǎn)便直觀。同時(shí),支持中英文可選操作界面,滿足不同用戶的使用習(xí)慣。此外,TH2830還具備201點(diǎn)列表掃描功能,可一次性完成多頻率點(diǎn)的參數(shù)測(cè)繪,助力工程師快速獲取元件的頻率特性曲線。
功能豐富,應(yīng)用廣泛
TH2830提供豐富的接口,兼容標(biāo)準(zhǔn)SCPI指令,可方便地組成各種測(cè)試系統(tǒng),滿足檢驗(yàn)、生產(chǎn)、科研的各種需求。它支持U盤文件存儲(chǔ),可通過(guò)U盤升級(jí)儀器程序,方便用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和軟件更新。在電子元件的生產(chǎn)線上,其10檔分選功能與PASS/FAIL指示可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化產(chǎn)線上元件良率的快速判定;在電子電路的設(shè)計(jì)和分析中,它能幫助工程師了解電路特性,優(yōu)化設(shè)計(jì)方案;在教育和研究領(lǐng)域,它也是教學(xué)實(shí)驗(yàn)和科研項(xiàng)目的重要工具。
智能設(shè)計(jì),穩(wěn)定耐用
TH2830采用軟件控制電源開關(guān),取消了傳統(tǒng)機(jī)械電源開關(guān),提高了儀器的穩(wěn)定性和使用壽命。其內(nèi)置智能校準(zhǔn)系統(tǒng),支持開路、短路、負(fù)載校準(zhǔn)及自動(dòng)量程切換,減少人為操作誤差,確保每次切換量程后的測(cè)量一致性。同時(shí),儀器還具備溫度漂移補(bǔ)償和抗干擾濾波功能,能在復(fù)雜環(huán)境下保持穩(wěn)定的測(cè)量性能。
技術(shù)支持
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