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應(yīng)客戶需求，安泰測(cè)試做了偏振片電磁特性測(cè)試，以下是測(cè)試方案

被測(cè)件：偏振片

厚度：帶膜（230um）；不帶膜（160um）

測(cè)試要求及內(nèi)容：不帶膜條件下，不同角度的Q值和介電常數(shù)值（0~360°）

測(cè)試儀器：Keysight N5227A；

分析軟件：Keysight N1500A；

介電常數(shù)分析軟件：自研軟件；

測(cè)試頻點(diǎn)：3.4GHz

網(wǎng)分空腔測(cè)試

現(xiàn)場(chǎng)圖片及曲線（0°）

現(xiàn)場(chǎng)圖片及曲線（90°）

現(xiàn)場(chǎng)圖片及曲線（180°）

現(xiàn)場(chǎng)圖片及曲線（270°）

現(xiàn)場(chǎng)圖片及曲線（360°）

測(cè)試數(shù)據(jù)匯總

根據(jù)數(shù)據(jù)分析，偏振片不同角度下的 Q 值和介電常數(shù)

用以評(píng)估偏振片微觀結(jié)構(gòu)（分子取向、晶體結(jié)構(gòu)、缺陷分布等）各向異性在宏觀介電性能上的體現(xiàn)。

通過(guò)分析其角度依賴性，揭示偏振片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的方向性特征，并關(guān)聯(lián)到偏振片的偏振效率、能量損耗等關(guān)鍵功能參數(shù)，為優(yōu)化制備工藝、提升性能提供依據(jù)。