在電子測試測量領域，一款功能強大且操作便捷的任意波函數發生器，是工程師們夢寐以求的得力工具。AFG31000 系列任意波函數發生器，憑借其創新技術與卓越性能，脫穎而出，成為眾多專業人士的理想之選。

優異指標，滿足多元需求

AFG31000 提供單或雙通道型號，接到 50Ω 負載時，輸出幅度范圍達 1 mVp-p 至 10 Vp-p，靈活適配不同測試場景。基本模式下，可輸出 25 MHz 至 250 MHz 的正弦波形，采樣率從 250 MSa/s 到 2 GSa/s 可選，14 位垂直分辨率帶來精細的信號呈現。連續、調制、掃描與突發模式一應俱全，各通道具備 128 k 點的任意波形內存，滿足基礎測試需求。高級模式下，連續模式與選配的序列、觸發和選通模式相結合，各通道任意波形內存可拓展至 16 M 點（可選 128 M 點），序列模式下多達 256 步，變量采樣時鐘范圍廣，最小波形長度僅 168 點，粒度為 1 點，為復雜測試提供有力支持。

創新技術，提升測試效率

InstaView? 技術是 AFG31000 的一大亮點。它能直接查看連接被測設備（DUT）后的實時波形，無需借助示波器等額外設備，既節省了測試時間，又避免了因阻抗不匹配導致的實驗錯誤，讓測試結果更加準確可靠。此外，AFG31000 內置雙脈沖測試軟件，在一分鐘內就能在觸摸顯示屏上生成兩個具有可變脈沖寬度（20 ns 到 150 μs）的波形，無需外部 PC 應用程序或手動編輯，可輕松測量開關器件參數，評估 MOSFET 和 IGBT 等功率器件的動態性能。

功能升級，拓展應用邊界

AFG31000 不僅開箱即用，還支持功能選配升級。用戶可將內存擴展至每通道 128 M 點，還能通過選配序列/觸發/選通模式，實現循環、等待、跳轉等多種功能，創建時序靈活、復雜的長波形，以更低的成本實現復雜波形的創建和編輯，進一步提升測試水平。